GBPI高壓加速老化箱(飽和)

簡(jiǎn)要描述：

GBPI高壓加速老化箱(飽和)加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。

產(chǎn)品型號(hào)：OPCT-40A
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-07-25
訪問量：280

GBPI高壓加速老化箱(飽和)設(shè)備概述

加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。

隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB 試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型：即PCT 和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(國(guó)際電工委員會(huì))所標(biāo)準(zhǔn)化。

GBPI高壓加速老化箱(飽和)技術(shù)參數(shù)

試樣限制	本試驗(yàn)設(shè)備禁止：易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存、強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
規(guī)格尺寸&性能
內(nèi)箱尺寸	Φ400*D550mm(圓桶型Φ代表直徑、D代表深度)
外箱尺寸	W850H1620D1130mm以物實(shí)為準(zhǔn)
溫度范圍	+105℃~143℃
濕度范圍	飽和型99.99R.H
壓力范圍	0~3.0kg/cm2(相對(duì)壓力)
升溫時(shí)間	RT(常溫) →143℃ 濕度99.99R.H約45min
溫度波動(dòng)度	±0.5℃
溫度均勻度	±2℃
滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)	IEC60068-2-66 1994 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱等標(biāo)準(zhǔn)……
結(jié)構(gòu)特征